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企業(yè)新聞

  • 雙能與相襯成像的完美交響：全新inCiTe 2.0 X射線顯微鏡的奇妙之旅

    我們的合作伙伴加拿大KA Imaging宣布推出其inCiTe 2.0 3D X射線顯微CT系統(tǒng)，在上一版本的基礎上，2.0版本集成了雙能成像和相襯成像功能。雙能成像功能可在一次掃描中實現(xiàn)多材料辨別，為航空航天、建筑和安全等行業(yè)提供創(chuàng)新的檢測解決方案。其先進的相襯成像技術增強了低密度材料和細微變化的分辨率，為成像應用提供了無與倫比的細節(jié)和清晰度。inCiTe 2.0專為工業(yè)和研究應用而設計，為無損

    2024-11-13 unistar

  • 眾星10月Highlights-走近EUV行業(yè)前沿，探索光刻未來

    •FIRST•【研討學習】荷蘭workshop走近EUV行業(yè)前沿，探索光刻未來?•??左右滑動，查看更多?眾星聯(lián)恒作為本次唯一參加2024 Source Workshop的中國公司，我們有幸與眾多行業(yè)專家見證了今年在阿姆斯特丹舉辦的這場EUV/SXR光源研究學術盛會。 歐美日韓的巨頭公司和頂級研究機構，在兩天緊湊的日程內，分享了眾多前沿信息。從等離子體電荷態(tài)演變的基礎研究，到超快動態(tài)等離子體診

    2024-11-01 unistar

  • 新品速覽-為X射線領域注入新活力

    X射線領域作為科學學界的前沿課題，其發(fā)展歷程持續(xù)地向領域內的科研與從事人員提出新問題與新要求，同時更在不斷激發(fā)相關儀器制造行業(yè)改革創(chuàng)新的蓬勃生命力。我們在此榮幸地向大家介紹近期由三位行業(yè)頭部制造商推出的新品。期望能更好地、更適配地為各位老師、研究人員、從業(yè)人員提供研究助力。隨時歡迎感興趣的伙伴與我們就新品展開交流！科研級CCD相機“Expand Your Vision!’’ 只有致力于創(chuàng)新才能滿足

    2024-11-01 unistar

  • 新一代XSight透鏡耦合相機：250nm空間分辨引領科研突破之路

    “客戶需求驅動技術進步！” 正是為了滿足客戶在高分辨率成像領域的迫切需求，我們的合作伙伴捷克RITE (Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o.) 再次突破X射線檢測技術的極限！正式推出了新一代Rigaku XSight X射線透鏡耦合相機，空間分辨率從400 nm提升至250 nm！XSight相機采用一體化結構設計，小巧緊湊，堅固耐用，易操作易集

    2024-11-01 unistar

  • LPP光源紫外波段全譜測量方法

    IN由液態(tài)Sn靶在激光作用下產(chǎn)生極紫外（EUV）光的激光等離子體（LPP）光源，對于納米光刻至關重要，其遠小于DUV光的波長，為實現(xiàn)集成電路的進一步縮放提供了基礎。在此過程中，除了產(chǎn)生13.5nm附近（帶內，in-band）的特征輻射以外，還會產(chǎn)生諸如VUV, DUV波段的帶外（OOB, out-of-band）輻射。大多數(shù)的研究聚焦在帶內及其附近波段，然而OOB波段的相對（或絕對）強度也十分重要

    2024-10-18 unistar

  • 好問題比好答案更重要

    “HACKATHON”聯(lián)想 | 發(fā)現(xiàn) | 觀察| 提問| 實踐- 第一屆 -2024.09.182024年9月18日眾星聯(lián)恒第一屆“Hackathon”活動圓滿收官，此次活動旨在讓所有同事們勇敢地邁出思維的步伐，暢所欲言，促進我們內在的自我驅動，盡情揮灑自己的創(chuàng)意與想象，無拘無束地展現(xiàn)那天馬行空般的獨特見解，放任自己仿佛回到那曾經(jīng)無知卻又無畏的孩童和少年時代。我們動員全公司的成員參與到此次活動當中

    2024-10-18 unistar

  • 眾星聯(lián)恒9月Highlights

    •FIRST•【特邀報告】XAFS學術研討會在復旦大學順利召開由眾星聯(lián)恒、復旦大學和HP Spectroscopy GmbH三方攜手舉辦的【XAFS學術研討會】在復旦大學化學院順利召開，會議特邀了來自TU Berlin（德國柏林工業(yè)大學）光學與原子物理學研究所的Christopher Schlesiger博士，和廣大學者、老師和同學就XAFS的發(fā)展歷史及現(xiàn)狀、XAFS的前沿應用以及hiXAS精細吸

    2024-10-18 unistar

  • MiniPIX多功能探測器用于提升基于羅蘭圓幾何的X射線吸收精細結構譜儀性能

    X射線吸收精細結構譜學（XAFS）是一種重要的材料表征方法，通過X射線吸收、熒光發(fā)射等可以獲得材料的元素種類、價態(tài)及配位結構等組成結構信息。早期的高分辨X射線吸收精細結構譜（HR-XAFS）測試主要依賴于單色性好、亮度高、連續(xù)能量可調的同步輻射光源，這極大地限制了XAFS在各領域的廣泛應用。近年來，隨著實驗室X射線光源、高質量彎晶及X射線探測器等X射線核心元器件的發(fā)展，基于羅蘭圓幾何、非掃描von

    2024-08-02 unistar

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