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高分辨非晶硒探測器（BrillianSe）助力美國阿貢國家實驗室APS高能X射線顯微成像
點擊藍字 關(guān)注我們關(guān)于ANL/APS美國阿貢國家實驗室（Argonne National Laboratory，簡稱ANL）是美國政府最老和最大的科學與工程研究實驗室之一 — 在美國中西部最大。阿貢是1946年特許成立的美國第一個國家實驗室，也是美國能源部所屬最大的研究中心之一。過去半個世紀中，芝加哥大學為美國能源部及其前身監(jiān)管阿貢國家實驗室的運行。 阿貢運行著世界水平的國家級科學研究裝置，如先進
2025-05-13 unistar
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基于8μm高分辨率非晶硒探測器的科研級相襯微米CT
點擊藍字 關(guān)注我們在傳統(tǒng)的微米CT中，檢測生物組織，聚合物薄膜或纖維復合物等輕質(zhì)樣品時常常會面臨的成像對比度較差的問題，這是由于這類低原子序數(shù)材料對X射線的吸收截面很低導致的。而相襯成像正是吸收成像的互補，相襯成像是通過探測 X 射線穿過樣品后相位的改變來對樣品成像，其依賴于相移截面，低原子序數(shù)材料的相移截面通常會比吸收截面大3個數(shù)量級，因此對這類材料使用相襯成像對比度會更好，如圖1。圖1.水和骨
2024-06-11 unistar
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直接轉(zhuǎn)換8μm混合像素CMOS X射線探測器在材料科學中的新應用
點擊藍字關(guān)注我們加拿大 KA imaging DXC 會議海報：直接轉(zhuǎn)換 8μm 混合像素 CMOS X 射線探測器在材料科學中的新應用背景介紹：01在 20keV 以上，X 射線成像探測很難兼得高分辨率和高探測效率。X 射線探測器的性能限制了實驗的范圍，阻礙了通過衍射和層析成像技術(shù)來理解材料中復雜納米級結(jié)構(gòu)的進展。混合像素1,2,3/光子計數(shù)X射線直接探測器閃爍體4 X射線間接探測器優(yōu)勢使用高
2024-01-06 unistar
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相襯顯微CT和非晶硒探測器在農(nóng)業(yè)和自然中的應用
X 射線成像可提供對農(nóng)作物和農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量、結(jié)構(gòu)和成分的深入了解，從而在農(nóng)業(yè)中發(fā)揮重要作用。具體來說，X 射線可用于：種子和谷物的質(zhì)量評估，以評估谷物質(zhì)量和可能影響作物產(chǎn)量的缺陷，例如裂紋、蟲害或空心種子。檢測植物病害和害蟲，以盡量減少作物損害，例如昆蟲和真菌或生理疾病造成的蛀道。使用 BrillianSe™ 在40 kV、200 uA 下掃描對咖啡豆的切片像可以使用 X 射線計算機斷層掃描 (CT)
2023-09-11 unistar
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![相襯顯微CT和非晶硒探測器在農(nóng)業(yè)和自然中的應用]()
相襯顯微CT和非晶硒探測器在農(nóng)業(yè)和自然中的應用
X 射線成像可提供對農(nóng)作物和農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量、結(jié)構(gòu)和成分的深入了解，從而在農(nóng)業(yè)中發(fā)揮重要作用。具體來說，X 射線可用于：種子和谷物的質(zhì)量評估，以評估谷物質(zhì)量和可能影響作物產(chǎn)量的缺陷，例如裂紋、蟲害或空心種子。檢測植物病害和害蟲，以盡量減少作物損害，例如昆蟲和真菌或生理疾病造成的蛀道。使用 BrillianSe™ 在40 kV、200 uA 下掃描對咖啡豆的切片像可以使用 X 射線計算機斷層掃描 (CT)
2023-09-11 unistar
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![跨向理想X射線探測器的一小步-高分辨、非晶硒X射線探測器及其應用]()
跨向理想X射線探測器的一小步-高分辨、非晶硒X射線探測器及其應用
“對于相干衍射成像（CDI），微米級像素的非晶硒CMOS探測器將專門解決大體積晶體材料中納米級晶格畸變在能量高于50 keV的高分辨率成像。目前可用的像素相對較大的（?55μm像素），基于medipix3芯片光子計數(shù)、像素化、直接探測技術(shù)無法輕易支持高能布拉格條紋的分辨率，從而使衍射數(shù)據(jù)不適用于小晶體的3D重建。” 美國阿貢國家實驗室先進物理光子源探測器物理小組負責人Antonino Miceli
2021-06-01 unistar
