眾星聚焦-荷蘭 Twente XUV 光學組博士深造機會
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盡管全球科技格局面臨諸多不確定性，未來的世界也許是割裂的，但是尖端技術的火種、及人類對于未知奇妙世界秩序的探索始終會在文明長河中奔涌不息。 X 射線及極紫外（EUV）技術作為突破物理極限的關鍵領域，正在推動基礎科學、半導體、精密檢測等行業(yè)的深刻變革。
作為深耕 X 射線及極紫外（EUV）核心部件領域的技術服務商和解決方案的探索者，眾星聯(lián)恒始終以"技術瞭望者"的視角，捕捉全球最新的 X 射線&EUV領域就業(yè)、深造機會。
博士職位：
基于混合X射線計量學的多層結構生長優(yōu)化研究
在特文特大學 (University of Twente) XUV 研究組，我們正在尋找一位聰明、充滿熱情的博士生加入我們的團隊！
目前的研究重點在于結合基于X射線的計量技術（X射線衍射/XRD、X射線反射/XRR、X射線熒光/XRF），開發(fā)一套原位X射線計量平臺，能夠精確表征納米級多層反射鏡內部的光學對比度和界面特性。
「APPLY NOW」
? 我們誠邀一位積極主動的博士候選人加入，助力以下尖端領域的開發(fā)工作：
Develop and refine a hybrid metrology technique, based on an X-ray metrology platform, in order to achieve precise characterization of a multilayer structure, including their interfaces.
Separately quantify interface morphology(roughness) and interdiffusion zones, analyze interface compound formation, and evaluate the effect of barrier layers on the formed structure and interfaces.
Design multilayer structures tailored for specific analyses.
Guide the process of fabrication of these structures and characterize them with X-ray reflectometry, and other surface science techniques.
Demonstrate the correlation between the structural properties of multilayers and their performance at various wavelengths.
理想背景：
物理學（或相關領域）碩士學位，具備薄膜沉積或薄膜計量學的初步經(jīng)驗，具備扎實的科研技能，并熟練使用 Matlab 或 Python 進行數(shù)據(jù)分析。
KEY TAKEAWAYS
SALARY INDICATION: € 2,901 - € 3,707
WORKING HOURS: 38 - 40 hr
DEADLINE: 15 Sep 2025
完整職位詳情與申請入口：
https://lnkd.in/eP6qzgYe
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